For best experience please turn on javascript and use a modern browser!
You are using a browser that is no longer supported by Microsoft. Please upgrade your browser. The site may not present itself correctly if you continue browsing.
uva.nl

Tashi Erdmann

Statistical evaluation of binary measurement systems

Samenvatting

Het ontwerpen van meetsysteemanalyse-studies voor binaire metingen wordt eenvoudiger naargelang er een beter begrip is van de te meten grootheid en deze beter operationeel gedefinieerd is. Ook de analyse en interpretatie van de resultaten worden dan betrouwbaarder. Tashi Erdmann vergeleek en onderzocht methoden voor binaire meetsysteemanalyse (MSA) om inzicht te krijgen in hun effectiviteit. Daarbij geeft hij praktische richtlijnen voor het gebruik van verschillende methoden.
Een binaire meting classificeert objecten in twee categorieën met het doel daarmee een empirische eigenschap van de objecten te weerspiegelen, bijvoorbeeld of iets werkt of kapot is. Binaire metingen zijn onderhevig aan meetfouten. Het experimenteel onderzoeken en evalueren van meetsystemen noemt men in de industriële statistiek meetsysteemanalyse.
Industriestandaards voor kwaliteitsbeheersing eisen dat de betrouwbaarheid van meet- en testresultaten wordt onderzocht en beheerst. Daarnaast leidt het voorkomen van onterechte afkeur tot kostenbesparingen, en het voorkomen van onterechte goedkeur tot betrouwbaardere kwaliteit. Ook buiten de industrie is binaire MSA belangrijk, zoals in vakgebieden als geneeskunde en psychologie, waar het dan bijvoorbeeld gaat om de betrouwbaarheid van diagnostische tests.